產(chǎn)品分類
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加速老化過(guò)程:HAST試驗(yàn)?zāi)軌蚣铀佼a(chǎn)品的老化過(guò)程,如遷移、腐蝕、絕緣劣化和材料老化,從而縮短產(chǎn)品可靠性評(píng)估的測(cè)試周期,節(jié)約時(shí)間和成本。
穩(wěn)定性評(píng)估:HAST試驗(yàn)可以評(píng)估芯片在高溫高濕環(huán)境下的穩(wěn)定性,確保其在惡劣應(yīng)用環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間正常工作。
潛在問(wèn)題檢測(cè):HAST試驗(yàn)有助于檢測(cè)可能由高溫高濕引起的問(wèn)題,例如熱膨脹導(dǎo)致的焊接破裂或金屬線斷裂,以及腐蝕引起的電氣連接問(wèn)題。
可靠性驗(yàn)證:通過(guò)HAST試驗(yàn),可以驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性,為制造商和客戶提供可靠的產(chǎn)品性能數(shù)據(jù)。
失效機(jī)理分析:HAST試驗(yàn)可以快速激發(fā)特定失效現(xiàn)象,如分層、開裂、短路、腐蝕及爆米花效應(yīng),從而揭示潛在的失效機(jī)制。
模擬實(shí)際環(huán)境:HAST試驗(yàn)?zāi)M實(shí)際使用中的多種環(huán)境因素,通過(guò)提高環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力(如溫度、壓力、電壓等),加速產(chǎn)品老化過(guò)程。
提高設(shè)計(jì)質(zhì)量:基于HAST測(cè)試的結(jié)果,制造商可以針對(duì)存在的問(wèn)題進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),提高產(chǎn)品的整體性能和可靠性。
預(yù)測(cè)長(zhǎng)期可靠性:HAST測(cè)試能夠模擬芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中的老化過(guò)程,幫助制造商預(yù)測(cè)產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性。
提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力:通過(guò)HAST試驗(yàn),制造商能夠確保其產(chǎn)品在各種惡劣環(huán)境下都能表現(xiàn)出色,從而提升產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
遵循行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):HAST試驗(yàn)遵循一系列行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),如IEC60749-4、JESD22-A118、JESD22-A110E等,確保測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。
緩慢冷卻后排氣排水模式:在試驗(yàn)結(jié)束后,首先通過(guò)緩慢冷卻試驗(yàn)腔并維持一定的相對(duì)濕度,直到試驗(yàn)腔溫度降至100℃以下,且壓力降至“0MPa"后,再進(jìn)行排氣和排水操作。這種模式可以保護(hù)樣品免受快速排氣引起的壓力變化應(yīng)力和干燥影響,減少在取出樣品過(guò)程中對(duì)樣品的潛在損害,適用于對(duì)壓力變化敏感或需要精細(xì)控制的樣品測(cè)試。
風(fēng)扇風(fēng)冷快速降壓模式:此模式在試驗(yàn)結(jié)束后,直接采用風(fēng)扇對(duì)試驗(yàn)腔進(jìn)行風(fēng)冷,無(wú)需等待自然冷卻至特定溫度,而是通過(guò)強(qiáng)制風(fēng)冷迅速降低試驗(yàn)腔內(nèi)的溫度和壓力,直至達(dá)到“0MPa"。這種方式的優(yōu)勢(shì)在于能夠更快速地完成降溫降壓過(guò)程,減少測(cè)試周期,同時(shí)保持較低的壓力應(yīng)力和干燥影響。然而,它可能不適用于所有類型的樣品,尤其是那些對(duì)快速溫度變化敏感的樣品。
快速排氣排水模式:這種模式在試驗(yàn)結(jié)束后,立即打開排氣閥,在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行排氣和熱水排放,使得樣品能夠在最短時(shí)間內(nèi)被取出。此模式適用于那些受壓力影響不大的樣品,能夠顯著提高測(cè)試效率,但需要注意的是,快速排氣可能導(dǎo)致樣品受到一定的壓力沖擊,因此需根據(jù)樣品特性謹(jǐn)慎選擇。
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