產(chǎn)品分類
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GB/T 2423.17—2008/IEC 60068-2-11:1981
這是《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧》標(biāo)準(zhǔn),適用于比較具有相似抗鹽霧腐蝕能力的材料、元件、設(shè)備以及評定保護(hù)層的質(zhì)量。
GB/T 2423.18—2000
這是《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)》標(biāo)準(zhǔn),涉及鹽霧交變試驗(yàn)。
GB/T 10125-97
這是《人造氣氛腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn),適用于金屬基材的表面電鍍及化學(xué)鍍處理零件的鹽霧試驗(yàn)。
GB/T 1771—91
這是《色漆和清漆 耐中性鹽霧性能的測定》標(biāo)準(zhǔn),涉及色漆和清漆的耐鹽霧性能測定。
加速電化學(xué)腐蝕過程:鹽霧環(huán)境下,鹽霧液體作為電解液存在,增加了金屬內(nèi)部構(gòu)成微電池的機(jī)會,加速了電化學(xué)腐蝕過程。這會導(dǎo)致金屬或涂層腐蝕生銹、起泡,產(chǎn)生構(gòu)件、緊固件腐蝕破壞。
影響機(jī)械部件和組件的功能:腐蝕可能導(dǎo)致機(jī)械部件、組件的活動部位阻塞或黏結(jié),使動部件卡死、失靈。
電路損壞:鹽霧腐蝕可能導(dǎo)致微細(xì)導(dǎo)線、印刷線路板出現(xiàn)開路或短路,元件腿斷裂等情況。
降低絕緣體表面電阻和體積電阻:鹽溶液的導(dǎo)電性會大大降低絕緣體表面電阻和體積電阻,其鹽霧腐蝕物與鹽溶液的干燥結(jié)晶(鹽粒)間的電阻會比原金屬高,增加該部位電阻和電壓降,影響觸電動作,從而嚴(yán)重影響產(chǎn)品電性能。
影響產(chǎn)品的耐久性和可靠性:鹽霧腐蝕會加速產(chǎn)品表面的氧化和腐蝕過程,使得在較短時間內(nèi)就能觀察到產(chǎn)品的耐腐蝕性能表現(xiàn),從而評估產(chǎn)品的耐久性和可靠性。
設(shè)計、材料選擇或生產(chǎn)工藝上的潛在問題:通過鹽霧腐蝕測試,企業(yè)可以及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計、材料選擇或生產(chǎn)工藝上存在的潛在問題,從而及時進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。
延長產(chǎn)品的使用壽命:通過鹽霧腐蝕測試,可以有效延長產(chǎn)品的使用壽命,降低因腐蝕而導(dǎo)致的維修和更換成本。
影響產(chǎn)品的電性能:鹽霧腐蝕物的電阻增加,導(dǎo)致電阻增加和電壓降低,從而影響產(chǎn)品的電性能,造成產(chǎn)品性能降級和損失。
氯化鈉濃度:鹽霧溶液通常按溶解比例為5±1份的氯化鈉,和95份的水配置。
水質(zhì)要求:水應(yīng)符合D1193類型Ⅳ中的要求,除了本規(guī)程對氯離子的限制外,鈉離子可以忽略。
雜質(zhì)含量限制:
總雜質(zhì)含量不超過0.3%。
除氯離子外的其他鹵素離子(溴離子、氟離子和碘離子)的含量應(yīng)低于鹽的含量的0.1%(質(zhì)量)。
銅離子含量要小于總量的0.3ppm。
不允許添加抗結(jié)劑的氯化鈉。
pH值調(diào)整:鹽溶液的pH值應(yīng)調(diào)整到6.5至7.2之間。
鹽霧沉降率:要求鹽霧的沉降率在1~2ml/80cm2·h之間。
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