產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
RELATED ARTICLES產(chǎn)品中心/ products
氧化鋁氮化鋁恒溫恒濕試驗(yàn)箱采用了的制冷劑和制冷技術(shù),如變頻壓縮機(jī)和直流電風(fēng)扇,能夠在更寬的溫度范圍內(nèi)快速達(dá)到設(shè)定值,并保持穩(wěn)定??諝庋h(huán)系統(tǒng): 空氣循環(huán)系統(tǒng)由離心式風(fēng)扇和電機(jī)構(gòu)成,確保箱內(nèi)溫度均勻,對(duì)于溫度變化率的控制也有重要作用,一般設(shè)定為20℃/h,以避免溫度變化過快造成測(cè)試誤差。
更新時(shí)間:2024-11-15印刷電路板PCB恒溫恒濕試驗(yàn)箱能夠提供準(zhǔn)確并穩(wěn)定的溫度和濕度條件,使得樣品能夠在特定環(huán)境下進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試和分析。它主要用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料在高低溫、或恒定濕熱試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
更新時(shí)間:2024-11-15鄭州150L恒溫恒濕試驗(yàn)箱使用控制面板上的按鍵或觸摸屏,找到溫度設(shè)置選項(xiàng)。輸入所需的溫度值。確保設(shè)置的溫度在試驗(yàn)箱的工作范圍內(nèi)。如果是程序控制的試驗(yàn)箱,可能需要?jiǎng)?chuàng)建一個(gè)溫度程序,包括溫度變化的斜率、保持時(shí)間等。
更新時(shí)間:2024-11-14可編程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一種用于模擬各種溫度、濕度環(huán)境的設(shè)備,廣泛應(yīng)用于材料或器件的溫度、濕度等性能測(cè)試。能夠模擬不同的溫度和濕度環(huán)境,具有較大的溫濕度控制范圍,能提供恒定低溫試驗(yàn)、恒定高溫試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、高溫高濕試驗(yàn)、高低溫濕熱組合循環(huán)試驗(yàn)等。
更新時(shí)間:2024-11-14恒溫恒濕測(cè)試試驗(yàn)箱是一種重要的環(huán)境模擬設(shè)備,廣泛應(yīng)用于各種材料或器件的溫度、濕度等性能測(cè)試。配有水箱,用于提供濕度調(diào)節(jié)所需的水源。如果水箱本身存在質(zhì)量問題,如材質(zhì)老化、破裂等,或者在安裝過程中受到損壞,就會(huì)導(dǎo)致水箱漏水。此外,水箱連接處的密封件老化或松動(dòng),也可能引起漏水。
更新時(shí)間:2024-11-14標(biāo)準(zhǔn)型恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一種用于模擬不同環(huán)境條件的設(shè)備,廣泛應(yīng)用于航空、航天、汽車、電子、化工、材料和檢測(cè)等領(lǐng)域。適用范圍航空、航天領(lǐng)域:用于測(cè)試航空、航天材料在不同溫濕度條件下的性能。汽車行業(yè):用于汽車零部件的可靠性測(cè)試,確保其在各種環(huán)境條件下的穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2024-11-14二極管晶體管恒溫恒濕試驗(yàn)箱模擬高溫環(huán)境,測(cè)試產(chǎn)品在高溫下的耐熱性、老化性能和可靠性。低溫環(huán)境:模擬低溫環(huán)境,測(cè)試產(chǎn)品在低溫條件下的耐寒性、脆性變化和工作性能。通過模擬這些環(huán)境條件,為科研人員和工程師提供了一個(gè)可控的測(cè)試平臺(tái),以評(píng)估和改進(jìn)產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境中的性能和可靠性。
更新時(shí)間:2024-11-14電阻電容恒溫恒濕試驗(yàn)箱在電子產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過程中,恒溫恒濕試驗(yàn)箱用于模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的高溫、高濕等惡劣環(huán)境,以檢驗(yàn)產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性 。在汽車行業(yè)中,恒溫恒濕試驗(yàn)箱用于模擬汽車在不同氣候條件下的運(yùn)行環(huán)境,測(cè)試汽車零部件的耐久性和性能。
更新時(shí)間:2024-11-14電路板恒溫恒濕試驗(yàn)箱通過計(jì)算機(jī)模擬等手段對(duì)風(fēng)道進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),可以降低空氣流動(dòng)阻力,提高空氣循環(huán)效率。例如,增加風(fēng)道的截面積、減少?gòu)澋罃?shù)量和角度等,使冷熱空氣能夠更順暢地在箱內(nèi)流動(dòng),從而縮短溫度恢復(fù)時(shí)間 。
更新時(shí)間:2024-11-14電子元器件恒溫恒濕試驗(yàn)箱一般要求升溫速率和降溫速率分別達(dá)到2-3°C/min。這意味著如果試驗(yàn)箱具備快速升降溫的能力,可以模擬實(shí)際使用中溫度變化的情況,從而縮短升溫和冷卻時(shí)間。
更新時(shí)間:2024-11-14CONTACT
辦公地址:廣東省東莞市洪梅鎮(zhèn)疏港大道3號(hào)1號(hào)樓113室TEL:0769-81330059
EMAIL:51037070@qq.com